ZMI-2002 8020-0211-1-J

测量轴数:双轴

分辨率:小于1纳米

精度:±0.1微米

工作温度:0°C至+40°C

保护等级:IP54

尺寸:229 x 114 x 29 mm

重量:1.2 kg

光源:633 nm激光

传感器:CMOS阵列

测量范围:X轴:50 mm,Y轴:25 mm

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描述

产品说明

ZMI-2002 8020-0211-1-J

ZMI-2002 8020-0211-1-J

ZMI-2002 8020-0211-1-J是一款用于高精度二维位移和角度测量的双轴测量板,适用于各种工业应用,如精密机械、半导体设备、光学设备、运动控制和自动化系统等。

产品参数

测量轴数:双轴

分辨率:小于1纳米

精度:±0.1微米

工作温度:0°C至+40°C

保护等级:IP54

尺寸:229 x 114 x 29 mm

重量:1.2 kg

光源:633 nm激光

传感器:CMOS阵列

测量范围:X轴:50 mm,Y轴:25 mm

产品规格

型号:ZMI-2002 8020-0211-1-J

品牌:ZYGO

系列:ZMI-2000

接口:VME

工作电压:220VAC

工作频率:50Hz

最大功率:2000W

工作温度范围:-20℃到50℃

尺寸:200mm x 120mm x 40mm

重量:500g

特征与作用

该测量板具有高精度、高可靠性的特点,适用于需要高精度测量的应用场景。其双轴设计和6U VME接口使其能够提供精确的测量结果,并且简化了与伺服卡或电机控制器的连接。

应用领域

ZMI-2002 8020-0211-1-J广泛应用于光学、半导体、精密制造等领域,用于测量各种光学元件和表面的形貌、轮廓等参数。此外,它也适用于工业自动化、质量控制和科研测试等领域。

ZMI-2002 8020-0211-1-J

ZMI-2002 8020-0211-1-J